2014.3.17

　3月14日、本校本郷キャンパス大会議室においてグリーンイノベーション研究会分科会「平成25年度第２回機器分析研究会FIB※による微細加工の基礎セミナー」を開催しました。
　本研究会は、本校と県内企業等との間の機器分析に関する勉強会として開催されたもので、企業等6社12名、本校から教員等2名が参加しました。
　セミナーでは日本電子株式会社三平智弘様よりFIB装置の原理や応用測定について話題提供頂きました。また、機械システム工学科坂本准教授よりFIB装置と連携できる本校既存の装置（SEM※,TEM※）等について説明させて頂きました。参加者からは多くの質問寄せられ活発な意見交換が行われたほか、本校所有の装置（FIB、SEM、TEM）の見学も行われました。

　富山高等専門学校では、機器分析研究会を初めとして保有設備・機器について地域の皆様との協働教育・共同研究に生かすため、来年度以降も随時セミナーを企画します。関心のある様々な分野の方々の参加をお待ちしております。

※FIB:集束イオンビーム加工観察装置
※SEM:走査型電子顕微鏡
※TEM:透過型電子顕微鏡